廣泛適用于材料、化工、制藥、精細(xì)陶瓷、造紙、化妝品、冶金等行業(yè)以顆粒物作為生產(chǎn)原料或中間體的實(shí)驗(yàn)室分析和工業(yè)生產(chǎn)中質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域

采用全量程米氏散射理論1、測(cè)量范圍：0.1~600微米2、準(zhǔn)確性誤差：±1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D50）重復(fù)性偏差：±1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)D...

激光粒度儀WJL-606儀采用全量程米氏散射理論

激光粒度儀WJL-608分析儀采用全量程米氏散射理論

激光粒度儀WJL-612采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布...

激光粒度儀WJL-616采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布...

激光粒度儀WJL-622工作原理：采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群...

激光粒度儀WJL-626工作原理：采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群...

激光粒度儀WJL-628工作原理：采用全量程米氏散射理論，充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì)，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群...

顆粒圖像分析儀WKL-702WKL-702顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合，是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和粒度測(cè)量的顆粒分析系統(tǒng)，由...

WBL系列全自動(dòng)比表面積及孔隙度分析儀產(chǎn)品描述：WBL系列全自動(dòng)比表面積及孔隙度分析儀參照ISO9277、ISO15901國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和GB-119587國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，...

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